进口镀层测厚仪产品介绍

镀层测厚仪是用来检测电镀镀层厚度的精密仪器。进口镀层测厚仪在当今社会被广泛应用于各种需检查镀层的行业,除了它在功能上能满足到不同行业的使用需求外,高质量的镀层测厚仪还能准确的检测好工件镀层的厚度,并能准确的分析出检测结果。


150T


一、产品优势及特征


(一)产品优势

1.镀层检测,检测层数范围1-6层;检测镀液的元素含量范围为1ppm-99.99%。

2.全自动操作平台,样品台可移动范围尺寸:160*160*100mm(X*Y*Z);

3.激光定位和自动多点测量功能;

4.检测的样品可以为固体、液体或粉末;

5.运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低;

6.可进行未知标样扫描、无标样定性、半定量分析;

7.操作简单、准确无损、高品质、高性能、高稳定性,快速检测(5-40秒依配置而定);

8.顶级配置:SDD探测器、超长寿命X射线管、SPELLMAN高压电源,仪器使用寿命长。

9.超高分辨率:125±5电子伏特(电子伏特越低分辨率越高,检测越精准,这是能谱仪一个非常关键的技术指标);

10.可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件;

11.软件终身免费升级;

12.无损检测,一次性购买标样可永久使用;

13.使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供全方位保姆式服务;

14.环保RoHS分析功能,实现镀层、环保和成份分析同时检测;

15.具有远程服务功能,在客户请求的情况下,可远程进行仪器维护;

16.RoHS规定的元素测试,待测物质的Sb\As\Se\Ba元素,卤素要求的Cl\Br八大有害重金属:铅:Pb、汞:Hg、镉:Cd、锑:Sb、硒:Se、砷:As、钡:Ba、铬:Cr。


(二)产品特征

1.高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)

2.计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)

3.Multi Ray. 运用基本参数法(FP)软件,对样品进行准确的镀层厚度分析,可对镀液进行定量分析。

MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄膜镀层厚度测量

相对(比)模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497 

多镀层厚度同时测量

单镀层应用 [如:Cu/ABS等]

双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金镀层应 [如:Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

4.Multi-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。

Multi-Ray 金属行业精确定量分析软件。可同时分析8种元素。最小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达±0.02%,贵金属(8-24 Karat) 分析精度可达±0.05kt

Multi-Ray. 对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。

5.Multi-Ray WINDOWS 7软件操作系统

6.完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等

7. 自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量,自动多点分析。每个阶段的文件有最多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。


二、产品配置及技术指标说明

1)、硬件参数:

1.X射线管:高稳定性X射线管,使用寿命(工作时间>18,000小时)

微焦点x射线管

铍窗口, 光斑尺寸75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。

50kV,1mA。高压和管流设定为应用程序提供高性能。


2.探测器:SDD探测器

能量分辨率:125±5eV


3.滤光片/可选

初级滤光片:Al滤光片,自动切换

6个准直器:0.2,0.3,0.5,1,4,4mm(或者根据客户具体检测要求配置)

          

4.平台:软件程序控制步进式电机驱动X-Y-Z轴移动大样品平台。

激光定位、简易荷载负载量为5公斤

软件控制程序进行持续性自动测量


5.样品定位:显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

         

6. 分析谱线:

- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)

- 基点改正(基线本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示



7.视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统

- 观察范围:3mm x 3mm

- 放大倍数:40X

- 射线方向:上照式

- 软件控制取得高真图像


8. 检测厚度(正常指标):

- 原子序数 22 - 24 : 6 ~ 1000 微英寸

- 原子序数 25 - 40 : 4 ~ 1200 微英寸

- 原子序数 41 - 51 : 6 ~ 3000 微英寸

- 原子序数 52 - 82 : 2 ~  500 微英寸


9. 计算机、打印机(赠送)

1)含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标

2)含Windows 7操作系统

3)Multi-Ray软件

注:设备需要配备稳压电源,需另计。


2)、光谱仪软件功能

1)软件应用

- 单镀层测量

- 线性层测量,如:薄膜测量

- 双镀层测量

- 针对合金可同时进行镀层厚度和元素分析

- 三镀层测量。

- 无电镀镍测量

- 电镀溶液测量

- 吸收模式的应用 DIN50987.1/ ISO3497-A2

- 励磁模式的应用DIN50987.1/ ISO3497-A1

- 基本参数法目前是镀层领域解决方案。

2) 软件标定方法

- 自动标定曲线进行多层分析

- 使用无标样基本参数计算方法

- 使用标样进行多点重复标定

- 标定曲线显示参数及自动调整功能


3)软件校正功能:

- 基点校正(基线本底校正)

- 多材料基点校正,如:不锈钢,黄铜,青铜等

- 密度校正


4)软件测量功能:

- 快速开始测量

- 快速测量过程

- 自动测量条件设定(光管电流,滤光片,ROI)


5) 自动测量功能(软件平台)

- 同模式重复功能(可实现多点自动检测)

- 确认测量位置 (具有图形显示功能)

- 测量开始点设定功能(每个文件中存储原始数据)

- 测量开始点存储功能、打印数据

- 旋转校正功能

- TSP应用

- 行扫描及格栅功能


6) 光谱测量功能

- 定性分析功能 (KLM 标记方法) 

- 每个能量/通道元素ROI光标

- 光谱文件下载、删除、保存、比较功能

- 光谱比较显示功能:两级显示/叠加显示/减法

- 标度扩充、缩小功能(强度、能量)


7) 数据处理功能

- 监测统计值: 平均值、 标准偏差。

- 测量范围,N 编号、 Cp、 Cpk,

- 独立曲线显示测量结果。

- 自动优化曲线数值、数据控件


8)其他功能

- 系统自校正取决于仪器条件和操作环境

- 独立操作控制平台

- 视频参数调整

- 仪器使用单根USB数据总线与外设连接

- Multi-Ray自动输出检测报告(HTML、Excel、PDF)

- 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......

- 数据库检查程序

- 镀层厚度测量程序保护。


9)仪器维修和调整功能

-自动校准功能;

-优化系统取决仪器条件和操作室环境;

-自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率,迭代法取决于峰位置、CPS、主X射线强度、输入电压、操作环境。



3).软件界面

3.1、镀层软件分析图谱界面


备注: 以上图片仅供参考


三、产品保修及售后服务


1. 协助做好安装场地、环境的准备工作、指导并参与设备的安装、测试、诊断及各项工作。

2. 对客户方操作人员进行培训。

3. 安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费,在用户方现场对操作人员进行培训。

4. 整机保修一年(X光管保修两年),终身维修,保修期从我司验收合格后并正式投入使  用之日起计算。

5. 免费提供软件升级


进口镀层测厚仪是一款测量准确度非常高的精密仪器设备,除了能进行各种精密的测量外还具备了高度的识别技术,能有效的识别出物体表面电镀层所使用的物质种类,因此在使用领域上很广泛得到各界的认可。




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创建时间:2018-05-16 15:38
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