镀层测厚仪测量电镀层厚度原理(膜厚)

        镀层测厚仪是一种专业镀层测量厚度的工具,而且主要应用在一些重要的金银首饰加工、电镀镀层、科学研究等行业中进行分析测量使用。因此对于这些机构来说拥有一台专业的镀层测厚仪很重要,也能给各企业带来更多实用性的帮助,那么在选购镀层测厚仪是如何实现测厚的呢?镀层测厚仪的测厚原理是什么呢?下面小编介绍给大家:

150wt镀层测厚仪


        1、首先对我们要了解XRF如何测量元素成分含量的:

         一个元素的成分计算公式可以简单用下面的公式表示:F▪I=C,(这里C是样品含量,F是光谱中此元素比例系数,I是此元素在光谱中的激发强度),首先标样中已知C(此处用百分比表示),将此标样放入光谱,按着测试条件开X射线激发标样,此时得到一个I的值,C/I=F(这样就能计算出此元素的含量轻度比列系数)。

        之后,待测样品放入光谱,同样条件用X射线激发样品,获得待测样品的I值,用这个I值乘以之前得到的F值,F▪I=C 就能计算出此样品的含量C的值,这就是XRF测量元素含量的基本原理。

 

        2、镀层测厚仪测试膜厚原理:

        同理,Th=F▪I (这里Th是厚度,单位微米或其他长度单位)

        首先也是用标样来标定,求出此样品的某元素镀层厚度强度比F。

        测试待测样品时,用待测样品的镀层元素激发的I值乘以之前得到的F值,F▪I=Th这样就能计算出待测样品的此元素镀层厚度值。

 

        综上所述,就是小编为大家所讲述镀层测厚仪如何测量电镀层的厚度,知道镀层测厚仪的测厚原理,镀层测厚仪才能发挥出最良好的使用效果。


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创建时间:2018-07-03 16:40
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