X射线荧光测厚仪、荧光膜厚仪(XRF)介绍

    X射线荧光(XRF)测厚仪，简称荧光测厚仪、荧光膜厚仪，是在很多领域被广泛应用的高精度仪器，那么什么是XRF呢? XRF,X射线荧光光谱分析法(X Ray Fluorescence),利用初级X射线光子或其他微观察离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光而进行物质成分分析和化学态研究的方法。XRF镀层测厚仪又是什么呢？下面且看小编的介绍吧：

    XRF荧光测厚仪俗称X射线荧光测厚仪、荧光测厚仪、荧光膜厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。比如金属镀层检测，PCB线路板镀层分析等。

    XRF荧光测厚仪原理是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。

    XRF荧光测厚仪应用领域主要集中在：电路板、端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、五金电镀、珠宝首饰、汽车配件、检测机构以及研究所和高等院校等；

    随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线荧光(XRF)荧光测厚仪,向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测试精度可达0.001 μm，测量多镀层分析，1～5层，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。