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iEDX-150μT特殊镀层厚度检测仪

型号:iEDX-150μT

主要优点及应用

特殊镀层厚度检测:化学镀镍钯浸金、钯、 镍、 铑等

汽车零部件、 线路板(PCB)镀层厚度检测,如:电容

单层、 多层、合金镀层检测

可同时检测合金镀层的厚度与成份比例

可选用Capillary微焦点(70um)检测样品

可检测多层薄膜的膜厚(多达5层)

便捷的样品台操控

可多点连续检测

支持在线远程控制

项目

Item

规格

Details

X射线管

X-ray generator

// / (可选),50kV1mA          Mo / Rh / W / Ag Target (Option), 50kV, 1mA

探测器

Detector

SDD(硅漂移探测器)                       SDD (Silicon Drift Detector)

分辨率

Resolution limit

125eV ( Mn K α)                            125eV (Mn   Kα)

X射线焦斑

X-ray coverage

聚光纤(50100μm)                        Poly capillary optics (50 ~ 100μm)

测量范围

Measuring range

铝(13)~ 铀(92                       Al (13) ~ U (92)

样本类型

Sample type

固体/液体/粉末,多层                      Solid / Liquid / Powder, Multi-Layer

样品室尺寸

Size of sample chamber

390×410×100mm(宽×深×高)            390 × 410 × 100 mm (W × D × H)

主要特征

Key features

- 自动/手动平台 - 常规镀层厚度检测,铑,钯,金,银,锡,镍 - 可测多层薄膜的镀层厚度(多达5层)

- Auto / Manual Stage Mode - Plating thickness measurement general, Rh, Pd, Au, Ag, Sn, Ni

- Film thickness measurement of multilayer thin films (up to 5Layer).

摄像头

Camera properties

4080                                 40 ~ 80x

安全性

safety

3点联锁                                  3point interlock

报告类型

Type of report

ExcelP DF/输出自定义表单                  Excel, PDF / output Custom form

 

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