镀层厚度分析仪的测量方法

　　镀层厚度分析仪的测量方法有什么？为了让大家更好的理解今天善时仪器的小编给大家整理了下述内容，希望能给大家带来帮助，那么接下来一起看下吧。

　　镀层厚度分析仪的测量方法有很多种，比方说：楔切法，光截法，厚度差测量法，电解法，称重法，β射线反向散射法，X射线荧光法，电容法、磁性测量法以及涡流测量法等。这类方法中前五种是有损检测，测量手段也是相对比较繁琐的，并且速度慢，适合使适用于抽样检验。

　　X射线与β射线法是无接触无损测量，测量范围比较小，X射线法可以测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层以及底材原子序号大于三的镀层测量。电容法只有在薄导电体的绝缘覆层测厚的时候才进行使用。

　　目前随着技术的不断进步，尤其是近几年来引入微机技术之后，X射线镀层厚度分析仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向更进了一步。测量的分辨率能够达到零点一微米，精度可以达到到百分之一，有了很大幅度的提升。此设备使用范围比较广范，量程宽、操作简单并且价格便宜，是工业以及科研使用Z广泛的测厚仪器。

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