EDX-6800 X射线荧光光谱仪；
采用高真空设计及超高灵敏度SDD探测器，元素检测范围可从C(6)~U(92)
全聚焦型双曲面弯晶技术，实现点到点单色化高强度衍射，大幅降低X射线管出射谱中韧致辐射经样品后散射线背景干扰，提升元素检测灵敏度；
专业用于石油化工、矿山、水泥、电子电器、土壤分析、考古等行业元素分析；
样品形态可为固态，液态，粉末；
可同时进行RoHS、金属成份、金属镀层厚度分析。

EDX-1080元素分析光谱仪；
功能强大 准确无损 快启快测 一键操作；
采用真空样品腔，多准直器自动切换；
样品形态可为固态，液态，粉末。

iEDX-100A PLUS X射线荧光光谱仪 可快速准确测量油品中S元素含量；

专利方法，专利技术
精准测量管控软包电池铝塑膜冲坑后R角厚度，可快速准确找寻到最薄点并测量其厚度
用于各类软包类电池铝塑膜冲坑后R角铝层厚度测量，包括3C类及动力电池
适用于对电芯质量要求严格的电芯厂及铝塑膜原料厂商

本系统主要用于检测微波陶瓷材料复介电性能，自主开发的微波陶瓷材检测夹具设备，并配合网分仪实现微波陶瓷材料的介电常数 (20∽200)、品质因素Qf值 (5.0×102∽1.5×105)的测量及显示功能，介电常数值相对误差≤±1％,品质因素Qf值相对误差≤±20％

ISP iEDX-150WT镀层厚度分析仪；
采用非真空样品腔；
专业用于PCB镀层厚度测量，PCB镀层分析，金属电镀镀层分析；
集成了镀层分析界面和合金成份分析界面；
可同时增加镀层中的合金成份分析及RoHS功能。

EDX-1200合金分析仪；
检测合金元素达10ppm；
采用真空样品腔，多准直器自动切换；
专业用于铜合金分析、铁、锌、矿石等合金的金属合金成份分析；
合金分析仪样品形态可为固态，液态，粉末。

ISP iEDX-150T镀层测厚仪；
采用非真空样品腔；
专业用于PCB电镀镀层分析、PCB镀层厚度测量及金属电镀镀层分析；
采用多种光谱拟合分析处理技术；
可增加合金成份分析及RoHS功能。