应用领域:

EDX-6800 X射线荧光光谱仪可用于石油化 工、矿山、 水泥、电子电器、土壤分析、考古等行业；

采用高真空设计及超高灵敏度 SDD探测器，元素检测范围可从C(6)~U(92)

全聚焦型双曲面弯晶技术，实现点到点单色化高强度衍射，大 幅降低X射线管出射谱中韧致辐射经样品后散射线背景干扰，提升元素检测灵敏度；

样品形态可为固态，液态，粉末；

图谱界面：

软件支持无标样分析，可任意进行定 性、定量分析，使用灵活；

全元素分析、RoHS和金属镀层于一体的测试软件；

同时可以显示25中元素分析结果；

采用多种光谱拟合分析处理技术。

技术指标：

全聚焦型双曲面弯晶技术，实现点到点单色化高强度衍 射

元素分析范围从碳(C)到铀(U)； 

元素含量分析范围：检出限到99.99%；

SDD探测器，能量分辨率为130eV，探测器晶体面积25mm²，最大计数率可达1Mcps；

X射线管，50kV/1mA； 

温度适应范围为15℃至30℃； 

高性能FP基本参数法分析；

最大样品直径60mm；

仪器尺寸：600×420×440mm。

元素检出限：超轻元素（C-F）：O 检出限≤0.3%，F检出限≤0.05%；重金属元素（Co-U）：Pb/As检出限＜0.2mg/kg，Cd检出限＜0.1mg/kg。（C、H、O、N为主量元素的轻基体样品，元素分析时间以300秒计）

重复性：超轻元素：F含量1%，RSD＜7.5%；轻元素：S含量50mg/kg，RSD＜5%；重金属元素：Pb/As/Cd含量1mg/kg，RSD＜10%。（轻基体样品，元素分析时间600秒，多次分析重复性结果）