常规镀层厚度分析仪的原理

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　　常规镀层厚度分析仪的原理之对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，比方说涂层、镀层、敷层、贴层以及化学生成膜等，在有关国家与国际标准中称为覆层。覆层厚度测量已经成为加工工业还与欧表面工程质量检测的关键一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为了让产品国际化，我国出口商品与涉外项目当中，对覆层厚度有了明确的要求。

　　常规镀层厚度分析仪的原理之覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。

　　这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，大多适合使用于抽样检验。X射线与β射线法是无接触无损测量，可是装置复杂昂贵，测量范围较小。因为有放射源，使用者一定要遵守射线防护规范。X射线法可以测量薄镀层、双镀层以及合金镀层。β射线法适合镀层与底材原子序号大于三的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚的时候采用。

　　随着技术的日益进步，尤其是近年来引入微机技术之后，选择磁性法与涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达零点一微米，精度可以达到百分之一，有了大幅度的提升。它运用范围广，量程宽、操作简单并且价格低，是工业与科研使用广泛的测厚仪器。选择的是无损方法既不会破坏覆层也不会破坏基材，检测速度快，可以让大量的检测工作经济地进行。

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