镀层测厚仪产品介绍
镀层测厚仪是用来检测电镀镀层厚度的精密仪器。进口镀层测厚仪在当今社会被广泛应用于各种需检查镀层的行业，除了它在功能上能满足到不同行业的使用需求外，高质量的镀层测厚仪还能准确的检测好工件镀层的厚度，并能准确的分析出检测结果。
一、产品优势及特征
（一）产品优势
1.镀层检测，检测层数范围1-6层；检测镀液的元素含量范围为1ppm－99.99%。
2.全自动操作平台，样品台可移动范围尺寸：160*160*100mm(X*Y*Z)；
3.激光定位和自动多点测量功能；
4.检测的样品可以为固体、液体或粉末；
5.运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低；
6.可进行未知标样扫描、无标样定性、半定量分析；
7.操作简单、准确无损、高品质、高性能、高稳定性，快速检测（5-40秒依配置而定）；
8.顶级配置：SDD探测器、超长寿命X射线管、SPELLMAN高压电源，仪器使用寿命长。
9.超高分辨率：125±5电子伏特（电子伏特越低分辨率越高，检测越精准，这是能谱仪一个非常关键的技术指标）；
10.可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件；
11.软件终身免费升级；
12.无损检测，一次性购买标样可永久使用；
13.使用安心无忧，售后服务响应时间24H以内，提供全方位保姆式服务；
14.环保RoHS分析功能，实现镀层、环保和成份分析同时检测；
15.具有远程服务功能，在客户请求的情况下，可远程进行仪器维护；
16.RoHS规定的元素测试，待测物质的Sb\As\Se\Ba元素，卤素要求的Cl\Br八大有害重金属：铅：Pb、汞：Hg、镉：Cd、锑：Sb、硒：Se、砷：As、钡：Ba、铬：Cr。
（二）产品特征
1.高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）
2.计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）
3.Multi Ray. 运用基本参数法（FP）软件，对样品进行准确的镀层厚度分析，可对镀液进行定量分析。
MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析
励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄膜镀层厚度测量
相对（比）模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如：Cu/ABS等]
双镀层应用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三镀层应用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四镀层应用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金镀层应 [如：Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
4.Multi-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。
Multi-Ray 金属行业精确定量分析软件。可同时分析8种元素。最小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达±0.02%，贵金属（8-24 Karat) 分析精度可达±0.05kt
Multi-Ray. 对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。
5.Multi-Ray WINDOWS 7软件操作系统
6.完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等
7. 自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量,自动多点分析。每个阶段的文件有最多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。
二、产品配置及技术指标说明
1）、硬件参数：
1.X射线管：高稳定性X射线管，使用寿命（工作时间>18,000小时）
微焦点x射线管
铍窗口， 光斑尺寸75um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。
50kV，1mA。高压和管流设定为应用程序提供高性能。
2.探测器：SDD探测器
能量分辨率：125±5eV
3.滤光片/可选
初级滤光片：Al滤光片，自动切换
6个准直器：0.2,0.3,0.5,1,4,4mm（或者根据客户具体检测要求配置）
4.平台：软件程序控制步进式电机驱动X-Y-Z轴移动大样品平台。
激光定位、简易荷载负载量为5公斤
软件控制程序进行持续性自动测量
5.样品定位：显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能
6. 分析谱线：
- 2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换）
- 基点改正（基线本底校正）
- 密度校正
- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示
7．视频系统：高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统
- 观察范围：3mm x 3mm
- 放大倍数：40X
- 射线方向：上照式
- 软件控制取得高真图像
8. 检测厚度（正常指标）：
- 原子序数 22 - 24 : 6 ～ 1000 微英寸
- 原子序数 25 - 40 : 4 ～ 1200 微英寸
- 原子序数 41 - 51 : 6 ～ 3000 微英寸
- 原子序数 52 - 82 : 2 ～ 500 微英寸
9. 计算机、打印机（赠送）
1）含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标
2）含Windows 7操作系统
3）Multi-Ray软件
注：设备需要配备稳压电源，需另计。
2）、光谱仪软件功能
1)软件应用
- 单镀层测量
- 线性层测量，如：薄膜测量
- 双镀层测量
- 针对合金可同时进行镀层厚度和元素分析
- 三镀层测量。
- 无电镀镍测量
- 电镀溶液测量
- 吸收模式的应用 DIN50987.1/ ISO3497-A2
- 励磁模式的应用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本参数法目前是镀层领域解决方案。
2) 软件标定方法
- 自动标定曲线进行多层分析
- 使用无标样基本参数计算方法
- 使用标样进行多点重复标定
- 标定曲线显示参数及自动调整功能
3)软件校正功能：
- 基点校正（基线本底校正）
- 多材料基点校正，如：不锈钢，黄铜，青铜等
- 密度校正
4)软件测量功能：
- 快速开始测量
- 快速测量过程
- 自动测量条件设定（光管电流，滤光片，ROI）
5) 自动测量功能（软件平台）
- 同模式重复功能（可实现多点自动检测）
- 确认测量位置 (具有图形显示功能)
- 测量开始点设定功能（每个文件中存储原始数据）
- 测量开始点存储功能、打印数据
- 旋转校正功能
- TSP应用
- 行扫描及格栅功能
6) 光谱测量功能
- 定性分析功能 （KLM 标记方法）
- 每个能量/通道元素ROI光标
- 光谱文件下载、删除、保存、比较功能
- 光谱比较显示功能：两级显示/叠加显示/减法
- 标度扩充、缩小功能（强度、能量）
7） 数据处理功能
- 监测统计值： 平均值、 标准偏差。
- 测量范围，N 编号、 Cp、 Cpk，
- 独立曲线显示测量结果。
- 自动优化曲线数值、数据控件
8）其他功能
- 系统自校正取决于仪器条件和操作环境
- 独立操作控制平台
- 视频参数调整
- 仪器使用单根USB数据总线与外设连接
- Multi-Ray自动输出检测报告（HTML、Excel、PDF）
- 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......
- 数据库检查程序
- 镀层厚度测量程序保护。
9）仪器维修和调整功能
-自动校准功能；
-优化系统取决仪器条件和操作室环境；
-自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率，迭代法取决于峰位置、CPS、主X射线强度、输入电压、操作环境。
3）．软件界面
3.1、镀层软件分析图谱界面
备注: 以上图片仅供参考
三、产品保修及售后服务
1. 协助做好安装场地、环境的准备工作、指导并参与设备的安装、测试、诊断及各项工作。
2. 对客户方操作人员进行培训。
3. 安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费，在用户方现场对操作人员进行培训。
4. 整机保修一年（X光管保修两年），终身维修,保修期从我司验收合格后并正式投入使 用之日起计算。
5. 免费提供软件升级
进口镀层测厚仪是一款测量准确度非常高的精密仪器设备，除了能进行各种精密的测量外还具备了高度的识别技术，能有效的识别出物体表面电镀层所使用的物质种类，因此在使用领域上很广泛得到各界的认可。
