镀层测厚仪的影响因素

　　随着信息技术的日益发展进步，特别是中国近年来我国引入一个微机技术后，采用X射线镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向就是进了学生一步。测量分辨率达到0.1微米，测量精度可达1%，大大提高了测量精度。
　　测量值精度的影响因素
　　1．影响因素的有关说明
　　a基体金属磁性质
　　为避免热处理和冷加工因素影响，采用磁法测厚受母材磁性能变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性能变化很小），仪器应采用与试件母材性能相同的标准件进行校准，或与待涂覆的试件一起。
　　b基体金属电性质
　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其相关材料主要成分及热处理技术方法研究有关。使用与标本的基本金属具有相同特性的参考板对仪器进行校准。
　　c基体金属厚度
　　每一种仪器公司都有自己一个基体金属的临界厚度。在该厚度以上，测量不受母材金属厚度的影响。本仪器的临界有效厚度值见附表1。
　　d边缘效应
　　仪器对试样表面形状的突然变化很敏感。因此在我们靠近试件边缘或内转角处必须进行分析测量是不可靠的。
　　e曲率
　　试样的曲率对测量有影响。这种环境影响我们总是可以随着曲率半径的减少明显地增大。因此，对弯曲试样表面的测量是不可靠的。
　　f试件的变形
　　测头会使软覆盖层试件进行变形，因此在我们这些影响试件上测出可靠的数据。
　　g表面粗糙度
　　基底金属和覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙程度不断增大，影响企业增大。粗糙表面可能引起系统误差和偶然误差。为克服意外误差，应增加不同位置的测量次数。
　　g磁场
　　周围各种电气设备产生的强磁场会严重干扰磁测厚工作。
　　h附着物质
　　本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面进行紧密接触的附着物质文化敏感，因此，必须通过清除附着物质，以保证教学仪器测头和被测试件表面可以直接影响接触。
　　i测头压力
　　探头施加在试样上的压力会影响测量的读数，所以要保持压力恒定。
　　j测头的取向
　　测头的放置生活方式对测量结果有影响。在测量中，探针应保持垂直于样品表面。
　　2．使用电子仪器时应当严格遵守的规定
　　a基体金属特性
　　对于中国磁性研究方法，标准片的基体进行金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体材料金属的磁性和表面粗糙度要求相似。
　　b基体金属厚度
　　检查母材厚度是否超过临界厚度，如果不超过临界厚度，则使用3.3中的方法之一进行校准。
　　c边缘效应
　　测量不应靠近试样的突然变化，如边缘、孔和内角。
　　d曲率
　　不应在混凝土试件的弯曲表面上进行测量。
　　e读数次数
　　通常需要在每个测量区域读取多个读数，因为仪器的每个读数不相同。
　　f表面清洁度
　　测量前，任何表面附件，如灰尘，油脂和腐蚀产品应该被删除，但没有涂层材料应该被删除
　　综合所诉，这就是镀层测厚仪的影响因素，希望对大家有所帮助，有需要的话，可以拨打公司官网上的电话，我们会安排专业人士为您解答!