什么是镀层测厚仪？

　   镀层测厚仪测量及成分测量分析仪
　　获得正确的涂层厚度对于满足成本效益和质量目标非常重要。如果你的涂层太厚，你的成本管理就会太高，而且鉴于我国一些研究金属进行市场的波动性，很容易导致失去来之不易的利润。另一方面，如果您的涂层太薄，组件将不能执行或看起来像预期的，你最终将与昂贵的返工或客户投诉。
　　公司可以用于提高镀层技术发展应用的台式XRF测厚仪和电磁测厚仪进行研究系列坚固耐用，为客户服务企业管理带来一种高性能、准确性和可靠性，有助于培养能够保持高生产信息系统安全运行和高产品质量。
　　无论您是在测量小型电气连接器上的复杂涂层，还是遵循IPC指南，还是验证大型部件上的涂层完整性，您都会发现日立分析仪可以无缝地应用于您的生产。
　　当一纳米定成败时
　　我们的镀层测厚仪有以下优点:
　　●用于多层分析的强大X射线源和光学系统
　　●符合企业行业进行规范，例如IPC规范、ISO3497、ASTM B568和DIN50987
　　●易于使用直观的软件和自动功能加快分析速度
　　●选择光学、探测器类型和自动化程度，以提高效率和成本效益
　　●自测诊断功能确保您的仪器始终提供可靠的结果。
　　●手持式和台式系统电磁参数测量仪可直接触达您需要进行测量的区域
　　适用于：
　　镀层测厚和成分分析
　　电子工业涂层分析，包括IPC规范
　　金属表面处理镀层分析