合金分析仪可用于识别物质中的特定元素

　　合金分析仪是一种XRF光谱分析技术，可用于识别物质中的特定元素并同时对其进行量化。它可以根据X射线的发射波长（λ）和能量（E）来确定特定元素，通过测量相应射线的密度来确定该元素的含量。这样，XRF光谱法就可以确定物质的元素组成。
　　每个原子都有自己固定数量的电子（电负性粒子）围绕原子核运行。并且电子的数量等于原子核中质子（带正电的粒子）的数量。从元素周期表中的原子数，我们可以知道质子数。每个原子序数对应一个固定的元素名称，如铁，元素名称为Fe，原子序数为26。能量色散X射线荧光和波长色散X射线荧光光谱分析技术专门研究应用于最内层三个电子轨道的活动，即K、L、M。其中K轨道离原子核最近，每个电子轨道对应一个元素的特定能级。
　　在XRF分析中，从X射线管发射的高能初级射线光子撞击样品元素。这些初级光子包含足够的能量来撞击最内层壳层（K层或L层层）中的电子并使其脱轨。此时，原子变成不稳定的离子。由于电子本能地寻求稳定，L或M外壳中的电子将进入构成内壳的空间。当这些电子从外壳移动到内壳时，它们会释放能量，我们称之为二次X射线光子。整个过程称为荧光辐射。每种元素的二次射线都有自己的特点。X射线光子荧光辐射产生的能量是由电子转换时内外层的能量差决定的。例如，铁原子Fe的Kα能量约为6.4 keV。特定元素在一定时间内发射的X射线的数量或密度可以用来衡量这种元素的含量。典型的XRF能量分布谱图显示了不同能量下的光子密度分布。
　　合金分析仪检测范围：钛、钒、铬、锰、铁,Co,Ni,Cu,Zn,Se,Nb,Zr,Mo,Pd,Ag,Sn,Sb,Ta,Hf,Re,W,Pb,Bi。